描述
内部干扰:是由系统的结构布局、线路设计、元器件性质变化和漂移等原因造成的,主要有:分别电容、分布电感引起的耦合感应;电磁场辐射感应;长线传输的波反射;多点接地造成的电位差引入的干扰;寄生震荡引起的干扰以及热噪声、闪变噪声、尖峰噪声等。
Anritsu MW9060A Optical Time Domain Reflectometer
Anritsu MN3650C/01 Modulator
Anritsu MP1220B, ATM Quality Analyzer
ANRITSU S251C SITEMASTER W/5/10
Anritsu 34NN50A Precision Adapter, N(m)-N(m), DC to 18
Anritsu ANR MD0623B Data Analyzer Plug In
Anritsu MW910A Reflectometer Service Manual +Schematics