描述
差模干扰:也称串模干扰,就是串联与信号源回路之中的干扰。它串联在信号源回路中,与被测信号相加后输入系统。产生差模干扰的因素主要有分布电容的静电耦合、空间的磁场耦合、长线传输的互感、50HZ的工频干扰,以及信号回路中元件的参数变化等。
Hitachi Seiki VM-40 II M.DIS 13-11-00-00 tested
Hitachi Seiki OPIO-MC6 20-05-00-00A OPIO-MC66 HIS2-B
Hitachi Seiki VMC40-3 DIS1 13-29-00-00-A tested
Hitachi Seiki OPIO-MC3 10-41-01-01 tested
OMRON SET, C500-NC22-E, C1000H-CPu01-EV1, C500-BC081
Yaskawa Yasnac i80 battery and cooling unit, tested