描述
差模干扰:也称串模干扰,就是串联与信号源回路之中的干扰。它串联在信号源回路中,与被测信号相加后输入系统。产生差模干扰的因素主要有分布电容的静电耦合、空间的磁场耦合、长线传输的互感、50HZ的工频干扰,以及信号回路中元件的参数变化等
ANRITSU MN3650C Digital Modulator 800MHz – 2.7 GHz
Anritsu Wiltron SM/STS Standard Short Site Cell Master
Anritsu ANR MD0625B Data Analyzer Plug In
Anritsu ANR MS546D IF Tester
Anritsu Corporation Operation Manual Spectrum Analyzer
Anritsu MG2630A Microwave Signal Source