描述
差模干扰:也称串模干扰,就是串联与信号源回路之中的干扰。它串联在信号源回路中,与被测信号相加后输入系统。产生差模干扰的因素主要有分布电容的静电耦合、空间的磁场耦合、长线传输的互感、50HZ的工频干扰,以及信号回路中元件的参数变化等。
Honeywell 12K Rom/1K Ram 30750218-9 TDC 2000 ______HH5
Honeywell CMOS Card 30735857-01 TDC 2000 _____HH9
Honeywell CMOS Memory 30735857-01 TDC- 2000 ____ H40
Honeywell Trend Memory 30735974-2 TDC- 2000 _____H37
Honeywell Board 4DP7APX IO211 TDC- 2000 ____H42
Honeywell Trend Memory PWB 30735974-4 TDC 2000 ____HH2
Honeywell TDC 3000 51305907-175 Low Level Analog FTA
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